高功率半导体器件测试的要点、技巧和陷阱
时间：2012年08月15日 10:00
简介： 虽然功率半导体器件测试曾被认为是一个专业领域，但现在许多研究人员、大学和公司正在对此类器件进行测量。工程师和科学家在从小信号器件测试转移到功率半导体器件测试时将面临新的挑战。本期研讨会将介绍一些常见的挑战并回顾避开这些挑战的方法。 参加研讨会的网友将会了解以下内容： 1.如何检测并抑制器件振荡； 2.如何配置仪器并实现100A高脉冲电流的准确测量； 3.如何利用...
高功率半导体器件测试的基础
时间：2012年06月27日 10:00
简介： 近年来，为满足更高效率、更高功率最终产品的要求，对开发功率半导体器件的兴趣骤增。为了提高效率，研究人员把精力集中在改善某些关键器件参数，而且准确测试这些参数才能不断改进器件设计。本期研讨会简要概述了功率器件并考虑了在这些器件研发增长背后的动力，这些器件参数如何影响最终产品的效率，以及应该做什么才能满足功率器件设计人员和测试工程师的需要。...
超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱
时间：2012年05月29日 10:00
简介： 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...
信号完整性网络分析仪SPARQ与仿真软件SI Studio
时间：2011年10月31日 10:00
简介： 高速电路实现前进行仿真、实现后进行验证，是高速电路设计的必要环节。力科公司为高速电路设计工程师、信号完整性工程师量身打造了一款创新的测试仪器：SPARQ-信号完整性网络分析仪,以及信号完整性仿真软件SI（Signal Integrity)Studio,帮助工程师快速准确地进行高速电路的仿真和验证。SPARQ是一种经济型投入即能精确、快速、简洁的测量S参数的新型仪器，与其配套的SI Studio软件...
电性参数测试的基本知识
时间：2011年10月25日 10:00
简介： 更好的理解电性参数测试的基本知识,包括在测试电压,电流,温度,电阻等电参数的时候,怎样更准确的测试我们所需要的参数,理解准确度,灵敏度,分辨率等常见的测试仪器的规格指标,以便用户在构建自己的测试系统过程中,如何更好的利用现有的仪器和选择对自己来说性价比最好的测试仪器设备。...
最新的高速串行系统测试技术及应用——基于BERTScope的整体解决方案
时间：2010年12月15日 10:00
简介： 在数字系统数据传输率日趋加快的背景下，以往的许多设计、测试理念已经变得不再适用，一致性测试和调试变得尤其的突出。整个高速系统划分为三大子系统：Tx、Channal和Rx。在Tx测试中，需要越来越高速的测量设备，带宽性能逐渐成了测试的瓶颈；而单纯的Tx一致性测试还不足以确保整个系统的BER要求。Rx测试（Rx容限测试），在以往相对低速的系统测试中是没有考虑过的，如今Rx中集成了更多的复杂功能，如Eq...
信号完整性分析与S参数测量专题报告
时间：2010年11月23日 10:00
简介： 随着半导体工艺的不断发展，数字信号的速率也愈来愈高，Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域，硬件设计工程师们需要改变传统的设计理念，他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号的质量，或许在制定产品设计方案的时候就需要进行调研；需要在设计过程的每一个环节去思考信号质量问题，如方案设计环节，原理图设计环境，PCB设计环节，测试验证环节等等；需要考虑到系统中的每一个构成成分可能给...