超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱
时间：2012年05月29日 10:00
简介： 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用
时间：2011年12月15日 10:00
简介： 混合域示波器在数字射频系统设计与验证中的应用演讲大纲： 1. zigbee技术特点 2. MDO混合域示波器及其功能特点 3. Zigbee系统的时域频域联合调试 4. 模拟电池耗尽状态对射频电路的影响 5. 数字总线控制与射频电路功能分析 6. 数字射频系统中的噪声来源与杂散分析 7. 总结 了解更多关于泰克 MDO,请点击http://www1.tek.com/zh/sco...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...
数字和模拟信号混合调试应用-罗德与施瓦茨最新混合示波器方案
时间：2011年11月24日 10:00
简介： 在嵌入式设计和调试中，硬件工程师常常会碰到数字信号和模拟信号、串行信号和并行信号同时出现的情况，传统的调试方式一般使用示波器查看模拟信号，使用了逻辑分析仪查看数字信号，软件工程师还需要协议分析仪帮助调试，整个调试过程需要多台仪器帮助完成，系统复杂且成本高昂，而混合示波器兼备了上述三种仪器的主要功能，已成为嵌入式系统设计中的首选仪器。但是当下的混合示波器在实际应用中也往往会面临这样的问题，逻辑分析的...
最优低电流和高电阻测量技术
时间：2011年11月22日 10:00
简介： 许多种应用要求进行低电流（1GΩ）测量。例如，低电流测量用于确定FET的栅极漏电流，测试灵敏的纳米电子器件以及测量电容器的漏电流；高电阻测量用于确定绝缘体的电阻率，多芯电缆和连接器及印制电路板等器件的绝缘电阻。在测量高阻抗时，采用一些适当的技术避免误差非常重要。此研讨会详细介绍了低电流和高电阻测量过程中获得理想测量结果的一些方法和技术。 参加研讨会的人员将了解到高阻抗测量的基本原理以及如何进行高...
电性参数测试的基本知识
时间：2011年10月25日 10:00
简介： 更好的理解电性参数测试的基本知识,包括在测试电压,电流,温度,电阻等电参数的时候,怎样更准确的测试我们所需要的参数,理解准确度,灵敏度,分辨率等常见的测试仪器的规格指标,以便用户在构建自己的测试系统过程中,如何更好的利用现有的仪器和选择对自己来说性价比最好的测试仪器设备。...
高性价比、高效开关测试系统技术探讨
时间：2011年09月08日 10:00
简介： 保持测试系统具有高性价比和高效率是每个测试工程师追求的目标。当系统中包括不止一个待测器件(DUT)或测试点时，很好的切换待测体连接到源端或测试仪器端,对于整体的测试系统是非常重要的。设计满足系统需求的开关需要了解待测器件(DUT)、待测器件(DUT)数量、信号大小、所需速度以及传输信号的设备。本研讨会将介绍开关基本原理、开关种类（继电器、晶体管等)以及开关系统种类(多路复用器、开关阵列等)。...