RIGOL UltraVision技术平台及基于该平台的示波器的领先优势
时间：2012年07月24日 10:00
简介： UltraVision技术平台是RIGOL通过五年多的探索和开发而获得的全新的数字示波器技术平台，该技术平台全面提升了示波器的整体性能，达到国际一流水平。在该技术平台下诞生了DS6000、DS4000与DS2000数字示波器，带宽从70MHz到1GHz。这些采用新平台的示波器已经全面进军主流示波器市场，与国外一流厂家同台竞争，同时也填补了国内这一端市场的空白。很多人很好奇，UltraVision到...
高功率半导体器件测试的基础
时间：2012年06月27日 10:00
简介： 近年来，为满足更高效率、更高功率最终产品的要求，对开发功率半导体器件的兴趣骤增。为了提高效率，研究人员把精力集中在改善某些关键器件参数，而且准确测试这些参数才能不断改进器件设计。本期研讨会简要概述了功率器件并考虑了在这些器件研发增长背后的动力，这些器件参数如何影响最终产品的效率，以及应该做什么才能满足功率器件设计人员和测试工程师的需要。...
SLOC技术以及在视频监控系统中的应用
时间：2012年06月21日 09:00
简介： SLOC是Intersil为监控系统中视频传输，所研发的一套完整的传输方案。该方案顺应了视频监控高清化、IP化的发展趋势，并集成了模拟视频传输，保留模拟视频传输的实时性等优点。SLOC结合了Intersil在视频信号处理，数模混合信号处理上的传统优势，保证模拟信号和IP信号能够在500米的距离下可靠的连接，大大延长了传统网线或同轴线传输IP信号或者CVBS模拟信号的距离；SLOC支持IP信号，使得...
超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱
时间：2012年05月29日 10:00
简介： 本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。...
如何借助赛灵思7系列目标设计平台提高设计生产力
时间：2012年03月29日 10:00
简介： 此次研讨会将着重介绍赛灵思最新发布的7系列目标设计平台。除了介绍最新的Kintex-7 KC705评估套件、Virtex-7 VC707评估套件以及Kintex-7 FPGA DSP套件的技术细节之外， ，此次研讨会还将为您展示赛灵思7系列目标设计平台的路线图，使您能够提前全盘规划自己基于该平台的设计。借助赛灵思快速交付的目标设计平台，可以加速您率先启动7系列FPGA的设计开发。同时，目标设计平台...
什么是源测量单元（SMU）仪器，怎样为您的应用选择合适的源测量单元（SMU）仪器 ?
时间：2012年03月27日 10:00
简介： 源测量单元（SMU）可以提高生产效率，完成更全面的特性测试，并提高测试系统整体性能。然而，为了真正优化测试，在为应用选择合适的源测量单元（SMU）时，必须综合考虑“说明书中的性能指标”。 此次在线研讨会将介绍源测量单元（SMU）的工作原理，说明选择源测量单元（SMU）仪器时需要考虑的关键因素及性能，以及在实际应用中比较各种SMU仪器的性能。 本次研讨会还将介绍吉时利公司最新发布的面向高...
非易失存储器-特性分析与测量技术
时间：2011年12月08日 10:00
简介： 寻求替代FG NAND和快速开发非易失存储器（NVM）的替代技术，例如正在进行的相变存储器（PCM/PRAM）、铁电存储器（FeRAM）、磁阻存储器（MRAM）和阻性存储器（ReRAM）。先进的特性分析能力对于任何新技术的成功至关重要。尽管存储器技术种类很多，但是这些技术都需要进行同一类型的特性分析，例如瞬态开关性能、耐力，并需要动态电流测量。 非易失存储器-特性分析和测量技术将探讨和例举FLA...
最优低电流和高电阻测量技术
时间：2011年11月22日 10:00
简介： 许多种应用要求进行低电流（1GΩ）测量。例如，低电流测量用于确定FET的栅极漏电流，测试灵敏的纳米电子器件以及测量电容器的漏电流；高电阻测量用于确定绝缘体的电阻率，多芯电缆和连接器及印制电路板等器件的绝缘电阻。在测量高阻抗时，采用一些适当的技术避免误差非常重要。此研讨会详细介绍了低电流和高电阻测量过程中获得理想测量结果的一些方法和技术。 参加研讨会的人员将了解到高阻抗测量的基本原理以及如何进行高...